AT88SC102 芯片性能簡介
AT88SCl02加密卡的訪問時(shí)間讀為2us／位，寫為5ms／位：工作電壓為5V土l0％；寫／擦除次數(shù)為10萬次；數(shù)據(jù)保持100年；工作溫度為-25—70℃；通訊協(xié)議符合IS0／IEC 7816-3同步協(xié)議。
存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)
存儲(chǔ)分區(qū) | 位地址 | 位數(shù) | 字節(jié)地址 | 字節(jié)數(shù) | |
FZ | 廠商代碼區(qū) | 0－15 | 16 | 0－1 | 2 |
IZ | 發(fā)行者區(qū) | 16－79 | 64 | 2－9 | 8 |
SC | 主密碼區(qū) | 80－95 | 16 | 10－11 | 2 |
SCAC | 主密碼錯(cuò)誤計(jì)數(shù)區(qū) | 96－111 | 16 | 12－13 | 2 |
CPZ | 代碼保護(hù)區(qū) | 112－175 | 64 | 14－21 | 8 |
AZ1 | 應(yīng)用區(qū)一 | 176－687 | 512 | 22－85 | 64 |
EZ1 | 一區(qū)擦除密碼 | 688－735 | 48 | 86－91 | 6 |
AZ2 | 應(yīng)用區(qū)二 | 736－1247 | 512 | 92－155 | 64 |
EZ2 | 二區(qū)擦除密碼 | 1248－1279 | 32 | 156－159 | 4 |
EAC2 | 二區(qū)擦除密碼錯(cuò)誤計(jì)數(shù) | 1280－1407 | 128 | 160－175 | 16 |
MTZ | 測試區(qū) | 1408－1423 | 16 | 176－177 | 2 |
注：擦、寫是兩種不同的操作，擦是位寫1操作，寫是位寫0操作。修改數(shù)據(jù)時(shí)，只有先擦除才能再寫數(shù)據(jù)。在熔絲熔斷(FUSE2)前與熔絲熔斷后它的保密特性是不同的。
熔絲熔斷前的保密特性:
FZ：由ATMEL公司出廠時(shí)設(shè)置(FUSEl)，只讀不可更改。ATMEL公司可以為批量用戶定制此代碼，以保證卡片的唯一性。
IZ：可讀。SC核對正確，IZ可以反復(fù)擦寫。
SC：SC核對正確時(shí)，SC可讀和擦寫，SC核對不正確時(shí)，SC不能讀和擦寫。
SCAC：初始值為4，SC核對每錯(cuò)1次SCAC減1，SCAC等于0時(shí)，卡自毀，如果SC核對正確SCAC恢復(fù)為初始值4。SCAC永遠(yuǎn)可讀。
CPZ：為用戶標(biāo)注，用于對卡中信息操作過程的標(biāo)注，永遠(yuǎn)可讀，SC核對正確后可擦寫。
AZ1，AZ2：前2位為寫讀保護(hù)位，即176位為AZl寫保護(hù)位(1PR)，177位為AZl讀保護(hù)位 (1RD)，736位為AZ2寫保護(hù)位(2PR)，737位為AZ2讀保護(hù)位(2RD)。SC核對正確時(shí)，AZn可讀(n代表l或者2，下同)，如果SC核對不正確時(shí)，nRD控制著AZn的可讀性，即如果nRD=1時(shí)，AZn可讀；如果nRD=0時(shí)，AZn不可讀。在熔絲熔斷(FUSE2)前，nPR不起作用，只要SC核對正確，AZn就可擦寫。
EZl，EZ2：SC核對不正確時(shí)，EZn不能讀和擦寫。SC核對正確時(shí)，EZn可讀和擦寫。在熔絲熔斷(FUSE2)前，EZn不起什么作用。
EAC2：熔絲熔斷(FUSE2)前，EAC2不起什么作用。
MTZ：用于測試卡的擦寫性能。任意條件下均可測試。
熔絲熔斷后的保密特性：
FZ：由ATMEL公司出廠時(shí)設(shè)置(FUSEl)，只讀不可更改。ATMEL公司可以為批量用戶定制此代碼，以保證卡片的唯一性。
IZ：永遠(yuǎn)可讀。但熔絲熔斷(FUSE2)后IZ內(nèi)容被固化，IZ將永遠(yuǎn)不能再改。
SC：不可讀，SC核對正確時(shí)，SC可擦寫，SC核對不正確時(shí)，SC不能擦寫。
SCAC：初始值為4，SC核對每錯(cuò)1次SCAC減1，SCAC等于0時(shí)，卡自毀，如果SC核對正確SCAC恢復(fù)為初始值4。SCAC永遠(yuǎn)可讀。
CPZ：為用戶標(biāo)注，用于對卡中信息操作過程的標(biāo)注，永遠(yuǎn)可讀，SC核對正確后 可擦寫。
AZ1,AZ2；前2位為寫讀保護(hù)位，即176位為AZ1寫保護(hù)位(1PR)，177位為AZ1讀保